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低能电子显微镜(LEEM-IV)
仪器设备
概况介绍
大连相干光源
气相
团簇
表面
液相
低能电子显微镜(LEEM-IV)

主要参数:

基底真空: 1×10-10 Torr
样品温度范围: 120K-1800K
LEEM空间分辨率: ~50 nm (16% / 84% 判据)
PEEM空间分辨率: ~110 nm (16% / 84% 判据)

功能用途:

单法兰集成式低能电子显微镜(LEEM-IV)将电子照射系统和成像系统集成在一个10英寸法兰上,具有成像(LEEM、PEEM)和衍射功能(LEED),是一种很有用的表面探测工具,可以实时观测表面相变、外延生长、吸附脱附、化学反应等动态过程。作为光电子显微镜使用时,可以选择不同光源(比如高压汞灯、飞秒激光等)用来激发光电子,进一步拓展了它的应用领域,包括实时原位观测样品表面局域功函数变化、单光子及多光子光发射、表面等离激元的激发与传播等。

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