主要参数：

N-STORM
横向分辨率：~20 nm
轴向分辨率：~50 nm
最大视野：80μm ╳ 80μm

N-SIM
横向分辨率（基于玻璃珠在XY平面的半峰宽）：SIM模式 115 nm；TIRF-SIM模式 86 nm
轴向分辨率（基于玻璃珠在Z轴的半峰宽）：3D-SIM模式 269 nm
图像采集时间：3D-SIM模式 1秒/帧

功能用途：

随机光学重建显微镜（STORM）通过组合复杂荧光样品中单个荧光团的精确定位信息来重构超分辨率荧光图像。N-STORM利用尼康强大的倒置显微镜，结合高精度、多色定位及三维重构，使超分辨率成像的分辨率达到传统光学显微镜的10倍(xy平面中可达约20纳米)。N-SIM提供了两倍于传统的光学显微镜的分辨率。结合了N-SIM E和共聚焦显微镜的系统，可以灵活地选择共焦图像中的一个位置，轻松切换至超分辨模式，以获取更多的细节。