主要参数：

空间分辨：  60 nm，90nm，150nm
成像波长： 400nm - 800nm

功能用途：

扫描近场光学显微镜系统（SNOM）通过突破传统光学成像的衍射极限，以纳米级分辨率同时探测样品表面的形貌和局域光学特性（如吸收、荧光等），用于纳米材料、生物样品等超微尺度下的结构与光学性质研究。